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最新固体表面/微小領域の解析・評価技術

氏平祐輔編. -- リアライズ社, 1991. <BB00133662>
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最新固体表面/微小領域の解析・評価技術

氏平祐輔編. -- リアライズ社, 1991. <BB00133662>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 書庫3層 428.4||U 001451046 書架 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 書庫3層
請求記号 428.4||U
資料ID 001451046
状態 書架
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 最新固体表面/微小領域の解析・評価技術 / 氏平祐輔編
サイシン コタイ ヒョウメン ビショウ リョウイキ ノ カイセキ ヒョウカ ギジュツ
出版・頒布事項 東京 : リアライズ社 , 1991.3
形態事項 410p ; 27cm
巻号情報
ISBN 4947655429
学情ID BN06637673
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 氏平, 祐輔(1936-)||ウジヒラ, ユウスケ <AU00041405> 編
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