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MIL-STD-883Cマイクロエレクトロニクスの試験方法及び手順

日本規格協会編集. -- 日本規格協会, 1987. <BB00025205>
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MIL-STD-883Cマイクロエレクトロニクスの試験方法及び手順

日本規格協会編集. -- 日本規格協会, 1987. <BB00025205>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 書庫4層 509.1||K 001270669 書架 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 書庫4層
請求記号 509.1||K
資料ID 001270669
状態 書架
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 MIL-STD-883Cマイクロエレクトロニクスの試験方法及び手順 / 日本規格協会編集
MIL STD 883C マイクロエレクトロニクス ノ シケン ホウホウ オヨビ テジュン
出版・頒布事項 東京 : 日本規格協会 , 1987.3
形態事項 568p ; 21cm
巻号情報
ISBN 4542401197
注記 Test methods and procedures for microelectronics.の翻訳
学情ID BN05196492
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 日本規格協会||ニホン キカク キョウカイ <AU00000408>
分類標目 電子工学 NDC8:549
分類標目 工業．工業経済 NDC8:509.13
件名標目等 電子工学||デンシコウガク
件名標目等 マイクロエレクトロニクス -- 規格||マイクロエレクトロニクス -- キカク
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