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電子部品の信頼性試験

越川清重著. -- 日科技連出版社, 1985. <BB00054449>
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電子部品の信頼性試験

越川清重著. -- 日科技連出版社, 1985. <BB00054449>
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所蔵一覧 1件～2件（全2件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 2階 549||E 002724953 書架 0件
0002 図書館 書庫5層 549||E 001219666 書架 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 2階
請求記号 549||E
資料ID 002724953
状態 書架
返却予定日
予約 0件
No. 0002
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 書庫5層
請求記号 549||E
資料ID 001219666
状態 書架
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 電子部品の信頼性試験 / 越川清重著
デンシ ブヒン ノ シンライセイ シケン
出版・頒布事項 東京 : 日科技連出版社 , 1985.10
形態事項 259p ; 22cm
巻号情報
ISBN 4817130164
注記 監修:三根久
注記 参考文献:p247〜253
学情ID BN01152837
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 越川, 清重||エチカワ, キヨシゲ <AU00082027> 著
著者標目リンク 三根, 久(1922-)||ミネ, ヒサシ <AU00049123>
分類標目 電子工学 NDC8:549
分類標目 科学技術 NDLC:ND354
件名標目等 電子部品||デンシブヒン
件名標目等 信頼性(工学)||シンライセイ(コウガク)
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