愛知工業大学附属図書館

植物試料のための超薄切片法

遠山益著. -- 学会出版センター, 1983. -- (医学・生物学のための電子顕微鏡実験法 ; 5). <BB00087937>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 書庫3層 470.72||T 003185543 書架 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 書庫3層
請求記号 470.72||T
資料ID 003185543
状態 書架
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

標題および責任表示 植物試料のための超薄切片法 / 遠山益著
ショクブツ シリョウ ノ タメノ チョウハク セッペンホウ
出版・頒布事項 東京 : 学会出版センター , 1983.8
形態事項 114p ; 21cm
巻号情報
ISBN 4762262862
書誌構造リンク 医学・生物学のための電子顕微鏡実験法||イガク セイブツガク ノ タメノ デンシ ケンビキョウ ジッケンホウ <BB00248670> 5//a
注記 参考書:p110
学情ID BN00760418
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 遠山, 益 (1930-)||トオヤマ, ススム <AU00051287>
著者標目リンク 山田, 英智(1922-)||ヤマダ, エイチ <AU00031855>
分類標目 植物学 NDC8:470.72
分類標目 科学技術 NDLC:RA64
件名標目等 電子顕微鏡||デンシケンビキョウ
件名標目等 ミクロテクニック||ミクロテクニック