愛知工業大学附属図書館

テストと信頼性

樹下行三編著. -- オーム社, 1982. -- (マイクロコンピュータ基礎講座 ; 5). <BB00083647>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 書庫5層 548.2||K 002365922 書架 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 書庫5層
請求記号 548.2||K
資料ID 002365922
状態 書架
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

標題および責任表示 テストと信頼性 / 樹下行三編著
テスト ト シンライセイ
出版・頒布事項 東京 : オーム社 , 1982.4
形態事項 218p ; 22cm
書誌構造リンク マイクロコンピュータ基礎講座||マイクロ コンピュータ キソ コウザ <BB00081686> 5//b
注記 監修:石井治,相磯秀夫
注記 参考文献:p209〜214
学情ID BN00609041
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 樹下, 行三 (1936-)||キノシタ, コウゾウ <AU00102556>
分類標目 情報工学 NDC8:548.2
分類標目 情報科学 NDC8:007.6
分類標目 科学技術 NDLC:M154
件名標目等 電子計算機||デンシケイサンキ