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	Practical electron microscopy of lattice defects Hiroyasu Saka. -- World Scientific, 2021. <BB00262936> 便利機能：エクスポート先選択エクスポート先を選択してください。このウインドウを閉じる目次・あらすじを見る詳細情報を見る書誌URL：

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No.	巻号	所蔵館	配置場所	請求記号	資料ID	状態	返却予定日	予約
0001		図書館	電動集密洋書	549.97\|\|S	004660676	書架		0件


No.	0001
巻号
所蔵館	図書館
配置場所	電動集密洋書
請求記号	549.97\|\|S
資料ID	004660676
状態	書架
返却予定日
予約	0件

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目次・あらすじ

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書誌詳細

標題および責任表示

Practical electron microscopy of lattice defects / Hiroyasu Saka

出版・頒布事項

Hackensack, N.J. : World Scientific , c2021

形態事項

xiii, 294 p. : ill. (some col.), port. ; 24 cm

巻号情報

ISBN	9789811234699

注記

Includes bibliographical references (p. 285-286) and index

学情ID

BC08571604

本文言語コード

英語

著者標目リンク

*坂, 公恭 (1941-)||サカ, ヒロヤス <AU00026908>

件名標目等

Electron microscopy

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