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Quantitative atomic-resolution electron microscopy

Annick De Baker ... [et al.] ; edited by Martin Hÿtch and Peter W. Hawkes. -- Academic Press, 2021. -- (Advances in imaging and electron physics ; v. 217). <BB00259087>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 電動集密洋書 549||A 004634812 書架 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 電動集密洋書
請求記号 549||A
資料ID 004634812
状態 書架
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

標題および責任表示 Quantitative atomic-resolution electron microscopy / Annick De Baker ... [et al.] ; edited by Martin Hÿtch and Peter W. Hawkes
出版・頒布事項 London : Academic Press , c2021
形態事項 xi, 282 p. : ill. (some col.) ; 24 cm
巻号情報
ISBN 9780128246078
書誌構造リンク Advances in imaging and electron physics <BB00260680> v. 217//a
注記 Includes bibliographical references (p. 255-278) and index
学情ID BC05602960
本文言語コード 英語
著者標目リンク De Baker, Annick <>
著者標目リンク Hÿtch, Martin <>
著者標目リンク Hawkes, Peter W. <>
分類標目 DC23:502.825
件名標目等 Electron microscopy
件名標目等 Stereology