愛知工業大学附属図書館

TOEIC L&Rテスト集中ゼミ : 新形式問題対応

ポール・ワーデン, ロバート・ヒルキ, 早川幸治共著 ; Part1〜4, Part5&6, Part7. -- 旺文社, 2017. <BB00243597>
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所蔵一覧 1件~3件(全3件)

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 Part7 図書館 3階語学検定 830.7||T 004416111 書架 0件
0002 Part1〜4 図書館 3階語学検定 830.7||T||C 004416095 書架 0件
0003 Part5&6 図書館 3階語学検定 830.7||T 004416103 書架 0件
No. 0001
巻号 Part7
所蔵館 図書館
配置場所 3階語学検定
請求記号 830.7||T
資料ID 004416111
状態 書架
返却予定日
予約 0件
No. 0002
巻号 Part1〜4
所蔵館 図書館
配置場所 3階語学検定
請求記号 830.7||T||C
資料ID 004416095
状態 書架
返却予定日
予約 0件
No. 0003
巻号 Part5&6
所蔵館 図書館
配置場所 3階語学検定
請求記号 830.7||T
資料ID 004416103
状態 書架
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

標題および責任表示 TOEIC L&Rテスト集中ゼミ : 新形式問題対応 / ポール・ワーデン, ロバート・ヒルキ, 早川幸治共著
TOEIC L&R テスト シュウチュウ ゼミ : シンケイシキ モンダイ タイオウ
出版・頒布事項 [東京] : 旺文社 , [2017.3]
形態事項 3冊 ; 21cm + CD2枚
巻号情報
巻次等 Part1〜4
ISBN 9784010945964
巻号情報
巻次等 Part5&6
ISBN 9784010945971
巻号情報
巻次等 Part7
ISBN 9784010945988
その他の標題 その他のタイトル:Obunsha ELT series
その他の標題 異なりアクセスタイトル:TOEIC L&Rテスト集中ゼミ : 新形式問題対応
トーイック エル アンド アール テスト シュウチュウ ゼミ : シンケイシキ モンダイ タイオウ
注記 その他のタイトルはブックジャケットによる
注記 出版地, 出版年月はブックジャケットによる
注記 Part5&6の著者: 石井辰哉
注記 Part7の著者: 柴山かつの, ロバート・ヒルキ, ポール・ワーデン
学情ID BB23861748
本文言語コード 日本語 英語
著者標目リンク Wadden, Paul <AU00031410>
著者標目リンク Hilke, Robert <AU00031426>
著者標目リンク 早川, 幸治||ハヤカワ, コウジ <AU00052212>
著者標目リンク 石井, 辰哉(1969-)||イシイ, タツヤ <AU00056612>
著者標目リンク 柴山, かつの||シバヤマ, カツノ <AU00001356>
分類標目 英語 NDC8:830.79
分類標目 英語 NDC9:830.79
件名標目等 英語||エイゴ