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半導体材料・デバイスの評価 : パラメータ測定と解析評価の実際

ディーター・K・シュロゥダー著 ; 嶋田恭博訳. -- シーエムシー出版, 2012. <BB00258062>
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半導体材料・デバイスの評価 : パラメータ測定と解析評価の実際

ディーター・K・シュロゥダー著 ; 嶋田恭博訳. -- シーエムシー出版, 2012. <BB00258062>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 2階 549.8||S 004658936 書架 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 2階
請求記号 549.8||S
資料ID 004658936
状態 書架
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 半導体材料・デバイスの評価 : パラメータ測定と解析評価の実際 / ディーター・K・シュロゥダー著 ; 嶋田恭博訳
ハンドウタイ ザイリョウ デバイス ノ ヒョウカ : パラメータ ソクテイ ト カイセキ ヒョウカ ノ ジッサイ
出版・頒布事項 東京 : シーエムシー出版 , 2012.5
形態事項 vii, 583p ; 21cm
巻号情報
ISBN 9784781304793
その他の標題 原タイトル:Semiconductor material and device characterization
その他の標題 異なりアクセスタイトル:半導体材料デバイスの評価 : パラメータ測定と解析評価の実際
ハンドウタイ ザイリョウ デバイス ノ ヒョウカ : パラメータ ソクテイ ト カイセキ ヒョウカ ノ ジッサイ
注記 文献: 章末
注記 原著第3版の翻訳
学情ID BB09175332
本文言語コード 日本語
著者標目リンク Schroder, Dieter K. <AU00016661>
著者標目リンク 嶋田, 恭博
シマダ, ヤスヒロ <>
分類標目 電子工学 NDC8:549.8
分類標目 電子工学 NDC9:549.8
件名標目等 半導体||ハンドウタイ
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