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USB3.0設計のすべて : 規格書解説から物理層のしくみ,基板・FPGA・ソフトウェア設計,コンプライアンス・テストまで
野崎原生, 畑山仁, 永尾裕樹編著. -- CQ出版, 2011. -- (インターフェース・デザイン・シリーズ). <BB00246647>
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USB3.0設計のすべて : 規格書解説から物理層のしくみ,基板・FPGA・ソフトウェア設計,コンプライアンス・テストまで
野崎原生, 畑山仁, 永尾裕樹編著. -- CQ出版, 2011. -- (インターフェース・デザイン・シリーズ). <BB00246647>
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20件
50件
100件
No.
巻号
所蔵館
配置場所
請求記号
資料ID
状態
返却予定日
予約
0001
図書館
2階
548.2||N
004551065
書架
0件
No.
0001
巻号
所蔵館
図書館
配置場所
2階
請求記号
548.2||N
資料ID
004551065
状態
書架
返却予定日
予約
0件
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書誌詳細
標題および責任表示
USB3.0設計のすべて : 規格書解説から物理層のしくみ,基板・FPGA・ソフトウェア設計,コンプライアンス・テストまで / 野崎原生, 畑山仁, 永尾裕樹編著
USB 3.0 セッケイ ノ スベテ : キカクショ カイセツ カラ ブツリソウ ノ シクミ キバン FPGA ソフトウェア セッケイ コンプライアンス テスト マデ
出版・頒布事項
東京 : CQ出版 , 2011.10
形態事項
511p ; 21cm
巻号情報
ISBN
9784789846424
書誌構造リンク
インターフェース・デザイン・シリーズ||インターフェース デザイン シリーズ <BB00186123>//a
その他の標題
異なりアクセスタイトル:USB 3.0設計のすべて : 規格書解説から物理層のしくみ基板FPGAソフトウェア設計コンプライアンステストまで
ユーエスビー サンテンゼロ セッケイ ノ スベテ : キカクショ カイセツ カラ ブツリソウ ノ シクミ キバン エフピージーエー ソフトウェア セッケイ コンプライアンス テスト マデ
注記
参考文献: p502-503
学情ID
BB07312363
本文言語コード
日本語
著者標目リンク
野崎, 原生
ノザキ, ハジメ <>
著者標目リンク
畑山, 仁
ハタケヤマ, ヒトシ <>
著者標目リンク
永尾, 裕樹
ナガオ, ヒロキ <>
分類標目
情報工学 NDC8:548.2
分類標目
情報工学 NDC9:548.29
件名標目等
インターフェース(コンピュータ)||インターフェース(コンピュータ)
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