愛知工業大学附属図書館
ログイン
  • 目録検索 目録検索 ▼
  • 利用者サービス 利用者サービス ▼
    • 利用状況の確認
    • ブックマーク
    • お気に入り検索
    • ILL複写依頼
    • ILL貸借依頼
    • 新規購入依頼

愛知工業大学附属図書館

検索結果一覧へ戻る

Optics of charged particle analyzers

Mikhail Yavor. -- Elsevier, 2009. -- (Advances in imaging and electron physics / edited by Peter W. Hawkes ; v. 157). <BB00131430>
便利機能：
目次・あらすじを見る 詳細情報を見る
書誌URL：

Optics of charged particle analyzers

Mikhail Yavor. -- Elsevier, 2009. -- (Advances in imaging and electron physics / edited by Peter W. Hawkes ; v. 157). <BB00131430>
便利機能：
目次・あらすじを見る 詳細情報を見る
書誌URL：

所蔵一覧 1件～1件（全1件）

ナンバーをクリックすると所蔵詳細をみることができます。

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 電動集密洋書 549||A 003715935 書架 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 電動集密洋書
請求記号 549||A
資料ID 003715935
状態 書架
返却予定日
予約 0件
このページのTOPへ
このページのTOPへ

書誌詳細

標題および責任表示 Optics of charged particle analyzers / Mikhail Yavor
出版・頒布事項 Amsterdam ; Tokyo : Elsevier , 2009
形態事項 xxiii, 381 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 9780123747686
書誌構造リンク Advances in imaging and electron physics / edited by Peter W. Hawkes <BB00169922> v. 157//a
注記 Includes bibliographical references (p. 351-371) and index
学情ID BA90973345
本文言語コード 英語
著者標目リンク Yavor, Mikhail <>
このページのTOPへ
検索結果一覧へ戻る
このページのTOPへ

  • 関連情報

    関連資料

    他の検索サイトで探す

    他大学資料確認

    資料を取り寄せる

    • ILL複写依頼(コピー取り寄せ)
    • ILL貸借依頼(現物借用)