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Aberration-corrected electron microscopy
edited by Peter W. Hawkes. -- Elsevier Academic Press, 2008. -- (Advances in imaging and electron physics / edited by Peter W. Hawkes ; v. 153). <BB00222091>
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Aberration-corrected electron microscopy
edited by Peter W. Hawkes. -- Elsevier Academic Press, 2008. -- (Advances in imaging and electron physics / edited by Peter W. Hawkes ; v. 153). <BB00222091>
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No.
巻号
所蔵館
配置場所
請求記号
資料ID
状態
返却予定日
予約
0001
図書館
電動集密洋書
549||A
003673308
書架
0件
No.
0001
巻号
所蔵館
図書館
配置場所
電動集密洋書
請求記号
549||A
資料ID
003673308
状態
書架
返却予定日
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0件
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書誌詳細
標題および責任表示
Aberration-corrected electron microscopy / edited by Peter W. Hawkes
出版・頒布事項
Amsterdam ; Tokyo : Elsevier Academic Press , 2008
形態事項
xv, 538 p., [32] p. of plates : ill. (some col.) ; 24 cm
巻号情報
ISBN
9780123742209
書誌構造リンク
Advances in imaging and electron physics / edited by Peter W. Hawkes <BB00169922> v. 153//a
注記
Includes bibliographical references and index
学情ID
BA88259270
本文言語コード
英語
著者標目リンク
Hawkes, P. W. (Peter William), 1937- <AU00000228>
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