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LSI故障解析技術のすべて : 開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー

二川清著. -- 工業調査会, 2007. <BB00120868>
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LSI故障解析技術のすべて : 開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー

二川清著. -- 工業調査会, 2007. <BB00120868>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 2階 549.7||N 003582368 書架 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 2階
請求記号 549.7||N
資料ID 003582368
状態 書架
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 LSI故障解析技術のすべて : 開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー / 二川清著
LSI コショウ カイセキ ギジュツ ノ スベテ : カイハツ ソクシン ブドマリ コウジョウ シンライセイ コウジョウ ノ キー テクノロジー
出版・頒布事項 東京 : 工業調査会 , 2007.11
形態事項 221p, 図版[7]p : 挿図 ; 22cm
巻号情報
ISBN 9784769312697
その他の標題 標題紙タイトル:LSI failure analysis
その他の標題 異なりアクセスタイトル:LSI故障解析技術のすべて : 開発促進歩留向上信頼性向上のキーテクノロジー
エルエスアイ コショウ カイセキ ギジュツ ノ スベテ : カイハツ ソクシン ブドマリ コウジョウ シンライセイ コウジョウ ノ キー テクノロジー
注記 参考文献: p[205]-214
学情ID BA84153482
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 二川, 清(1949-)||ニカワ, キヨシ <AU00017916>
分類標目 電子工学 NDC8:549.7
分類標目 電子工学 NDC9:549.7
件名標目等 集積回路||シュウセキカイロ
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