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残留応力のX線評価 : 基礎と応用

田中啓介, 鈴木賢治, 秋庭義明共著. -- 養賢堂, 2006. <BB00111789>
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残留応力のX線評価 : 基礎と応用

田中啓介, 鈴木賢治, 秋庭義明共著. -- 養賢堂, 2006. <BB00111789>
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所蔵一覧 1件～2件（全2件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 1階 501.32||Z 003554680 書架 0件
0002 図書館 書庫4層 501.32||Z 003470697 書架 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 1階
請求記号 501.32||Z
資料ID 003554680
状態 書架
返却予定日
予約 0件
No. 0002
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 書庫4層
請求記号 501.32||Z
資料ID 003470697
状態 書架
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 残留応力のX線評価 : 基礎と応用 / 田中啓介, 鈴木賢治, 秋庭義明共著
ザンリュウ オウリョク ノ Xセン ヒョウカ : キソ ト オウヨウ
出版・頒布事項 東京 : 養賢堂 , 2006.7
形態事項 vii, 363p : 挿図 ; 21cm
巻号情報
ISBN 484250384X
その他の標題 その他のタイトル:Evaluation of residual stresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications
その他の標題 異なりアクセスタイトル:残留応力のX線評価 : 基礎と応用
ザンリュウ オウリョク ノ エックスセン ヒョウカ : キソ ト オウヨウ
その他の標題 異なりアクセスタイトル:Evaluation of residual sresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications
注記 欧文タイトル (誤植): Evaluation of residual sresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications
注記 欧文タイトルは標題紙裏による
注記 参考文献: 各章末
学情ID BA77874054
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 田中, 啓介 (1943-)||タナカ, ケイスケ <AU00014717>
著者標目リンク 鈴木, 賢治(1958-)||スズキ, ケンジ <AU00059030>
著者標目リンク 秋庭, 義明(1959-)||アキニワ, ヨシアキ <AU00086893>
分類標目 工業基礎学 NDC9:501.32
分類標目 工業基礎学 NDC9:501.322
件名標目等 応力||オウリョク
件名標目等 非破壊検査||ヒハカイケンサ
件名標目等 歪測定||ヒズミソクテイ
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