愛知工業大学附属図書館

Sampling, wavelets, and tomography

John J. Benedetto, Ahmed I. Zayed, editors. -- Birkhäuser, 2004. -- (Applied and numerical harmonic analysis / series editor, John J. Benedetto). <BB00099844>
書誌URL:

所蔵一覧 1件~1件(全1件)

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 電動集密洋書 413.5||B 003278264 書架 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 電動集密洋書
請求記号 413.5||B
資料ID 003278264
状態 書架
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

標題および責任表示 Sampling, wavelets, and tomography / John J. Benedetto, Ahmed I. Zayed, editors
出版・頒布事項 Boston : Birkhäuser , c2004
形態事項 xxi, 344 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
ISBN 0817643044
書誌構造リンク Applied and numerical harmonic analysis / series editor, John J. Benedetto <BB00012504>//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA65445334
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Benedetto, John <AU00032054>
著者標目リンク Zayed, Ahmed I. <>
分類標目 LCC:QA403
分類標目 DC22:515/.2433
件名標目等 Harmonic analysis
件名標目等 Wavelets (Mathematics)
件名標目等 Fourier analysis
件名標目等 Sampling (Statistics)
件名標目等 Tomography