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愛知工業大学附属図書館
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High performance memory testing : design principles, fault modeling, and self-test
R. Dean Adams. -- Kluwer Academic, 2003. -- (Frontiers in electronic testing). <BB00148142>
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High performance memory testing : design principles, fault modeling, and self-test
R. Dean Adams. -- Kluwer Academic, 2003. -- (Frontiers in electronic testing). <BB00148142>
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No.
巻号
所蔵館
配置場所
請求記号
資料ID
状態
返却予定日
予約
0001
図書館
電動集密洋書
549.8||A
003227261
書架
0件
No.
0001
巻号
所蔵館
図書館
配置場所
電動集密洋書
請求記号
549.8||A
資料ID
003227261
状態
書架
返却予定日
予約
0件
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書誌詳細
標題および責任表示
High performance memory testing : design principles, fault modeling, and self-test / R. Dean Adams
出版・頒布事項
Boston ; London : Kluwer Academic , c2003
形態事項
xiii, 246 p : ill ; 25 cm
巻号情報
ISBN
1402072554
巻号情報
ISBN
1402072554
書誌構造リンク
Frontiers in electronic testing <BB00167523>//a
注記
Includes bibliographical references and index
学情ID
BA6145707X
本文言語コード
英語
著者標目リンク
*Adams, R. Dean <>
分類標目
DC21:621.39732
件名標目等
Semiconductor storage devices -- Testing
件名標目等
Computer storage devices -- Testing
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