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愛知工業大学附属図書館

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	High performance memory testing : design principles, fault modeling, and self-test R. Dean Adams. -- Kluwer Academic, 2003. -- (Frontiers in electronic testing). <BB00148142> 便利機能：エクスポート先選択エクスポート先を選択してください。このウインドウを閉じる目次・あらすじを見る詳細情報を見る書誌URL：

High performance memory testing : design principles, fault modeling, and self-test R. Dean Adams. -- Kluwer Academic, 2003. -- (Frontiers in electronic testing). <BB00148142> 便利機能：エクスポート先選択エクスポート先を選択してください。このウインドウを閉じる目次・あらすじを見る詳細情報を見る書誌URL：

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No.	巻号	所蔵館	配置場所	請求記号	資料ID	状態	返却予定日	予約
0001		図書館	電動集密洋書	549.8\|\|A	003227261	書架		0件


No.	0001
巻号
所蔵館	図書館
配置場所	電動集密洋書
請求記号	549.8\|\|A
資料ID	003227261
状態	書架
返却予定日
予約	0件

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目次・あらすじ

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書誌詳細

標題および責任表示

High performance memory testing : design principles, fault modeling, and self-test / R. Dean Adams

出版・頒布事項

Boston ; London : Kluwer Academic , c2003

形態事項

xiii, 246 p : ill ; 25 cm

巻号情報

ISBN	1402072554

巻号情報

ISBN	1402072554

書誌構造リンク

Frontiers in electronic testing <BB00167523>//a

注記

Includes bibliographical references and index

学情ID

BA6145707X

本文言語コード

英語

著者標目リンク

*Adams, R. Dean <>

分類標目

DC21:621.39732

件名標目等

Semiconductor storage devices -- Testing

件名標目等

Computer storage devices -- Testing

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