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Semiconductor material and device characterization

Dieter K. Schroder. -- 2nd ed. -- Wiley, 1998. -- (A Wiley-Interscience publication). <BB00093344>
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Dieter K. Schroder. -- 2nd ed. -- Wiley, 1998. -- (A Wiley-Interscience publication). <BB00093344>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 電動集密洋書 549||S 003219730 書架 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 電動集密洋書
請求記号 549||S
資料ID 003219730
状態 書架
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder
版事項 2nd ed
出版・頒布事項 New York : Wiley , c1998
形態事項 xxiv, 760 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
ISBN 0471241393
書誌構造リンク A Wiley-Interscience publication <BB00160285>//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA36515684
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Schroder, Dieter K. <AU00016661>
分類標目 LCC:QC611
分類標目 DC21:621.3815/2
分類標目 科学技術 NDLC:MC151
件名標目等 Semiconductors
件名標目等 Semiconductors -- Testing
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