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Optical characterization of epitaxial semiconductor layers

Günther Bauer, Wolfgang Richter, editors. -- Springer-Verlag, 1996. <BB00143244>
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Optical characterization of epitaxial semiconductor layers

Günther Bauer, Wolfgang Richter, editors. -- Springer-Verlag, 1996. <BB00143244>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 電動集密洋書 428||B 002752830 書架 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 電動集密洋書
請求記号 428||B
資料ID 002752830
状態 書架
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Optical characterization of epitaxial semiconductor layers / Günther Bauer, Wolfgang Richter, editors
出版・頒布事項 Berlin ; New York : Springer-Verlag , 1996
形態事項 xiv, 429 p. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 354059129X
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA26722605
本文言語コード 英語
著者標目リンク Bauer, G. (Günther), 1942- <AU00038249>
著者標目リンク Richter, Wolfgang, 1940- <>
分類標目 LCC:IN PROCESS
分類標目 DC20:537.6/22/0287
件名標目等 Semiconductors -- Optical properties
件名標目等 Heterostructures
件名標目等 Epitaxy
件名標目等 Crystal growth
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