愛知工業大学附属図書館
ログイン
  • 目録検索 目録検索 ▼
  • 利用者サービス 利用者サービス ▼
    • 利用状況の確認
    • ブックマーク
    • お気に入り検索
    • ILL複写依頼
    • ILL貸借依頼
    • 新規購入依頼

愛知工業大学附属図書館

検索結果一覧へ戻る

Characterization of semiconductor materials

Philip F. Kane, Graydon B. Larrabee. -- McGraw-Hill, 1970. -- (Texas Instruments electronics series). <BB00058200>
便利機能：
目次・あらすじを見る 詳細情報を見る
書誌URL：

Characterization of semiconductor materials

Philip F. Kane, Graydon B. Larrabee. -- McGraw-Hill, 1970. -- (Texas Instruments electronics series). <BB00058200>
便利機能：
目次・あらすじを見る 詳細情報を見る
書誌URL：

所蔵一覧 1件～1件（全1件）

ナンバーをクリックすると所蔵詳細をみることができます。

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 電動集密洋書 549.8||K 001664978 書架 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 電動集密洋書
請求記号 549.8||K
資料ID 001664978
状態 書架
返却予定日
予約 0件
このページのTOPへ
このページのTOPへ

書誌詳細

標題および責任表示 Characterization of semiconductor materials / Philip F. Kane, Graydon B. Larrabee
出版・頒布事項 New York : McGraw-Hill , c1970
形態事項 xvi, 351 p. : ill. ; 26 cm
巻号情報
ISBN 0070332738
書誌構造リンク Texas Instruments electronics series <BB00171568>//a
注記 Includes bibliographical references
学情ID BA19674681
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Kane, Philip F., 1920- <>
著者標目リンク Larrabee, Graydon B., 1932- <>
このページのTOPへ
検索結果一覧へ戻る
このページのTOPへ

  • 関連情報

    関連資料

    他の検索サイトで探す

    他大学資料確認

    資料を取り寄せる

    • ILL複写依頼(コピー取り寄せ)
    • ILL貸借依頼(現物借用)