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	Autotestcon '87 : proceedings : Nobember 3-5, 1987, IEEE International Automatic Testing Conference, Moscone Convention Center, San Francisco sponsored by, the Institute of Electrical and Electronics Engineers ... [et al.]. -- IEEE, 1987. <BB00058112> 便利機能：エクスポート先選択エクスポート先を選択してください。このウインドウを閉じる詳細情報を見る書誌URL：

Autotestcon '87 : proceedings : Nobember 3-5, 1987, IEEE International Automatic Testing Conference, Moscone Convention Center, San Francisco sponsored by, the Institute of Electrical and Electronics Engineers ... [et al.]. -- IEEE, 1987. <BB00058112> 便利機能：エクスポート先選択エクスポート先を選択してください。このウインドウを閉じる詳細情報を見る書誌URL：

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No.	巻号	所蔵館	配置場所	請求記号	資料ID	状態	返却予定日	予約
0001		図書館	電動集密洋書	540.4\|\|I	001965722	書架		0件


No.	0001
巻号
所蔵館	図書館
配置場所	電動集密洋書
請求記号	540.4\|\|I
資料ID	001965722
状態	書架
返却予定日
予約	0件

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書誌詳細

標題および責任表示	Autotestcon '87 : proceedings : Nobember 3-5, 1987, IEEE International Automatic Testing Conference, Moscone Convention Center, San Francisco / sponsored by, the Institute of Electrical and Electronics Engineers ... [et al.]
出版・頒布事項	Piscataway, NJ : IEEE , c1987
形態事項	xvii, 494 p. : ill. ; 28 cm
その他の標題	背表紙タイトル:Autotestcon 1987 Symposium Proceedings
注記	"87CH2510-6."
注記	"Autotescon '87, the 23rd annual Automatic Testing Conference"--p. iii
注記	Includes bibliographies
学情ID	BA19385560
本文言語コード	英語
著者標目リンク	*Autotestcon <AU00095162> (23rd : 1987 : San Francisco)
著者標目リンク	Institute of Electrical and Electronics Engineers <AU00001945>
件名標目等	Automatic checkout equipment -- Congresses

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