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Tutorial test generation for VLSI chips
[edited by] Vishwani D. Agrawal and Sharad C. Seth ; : casebound, : microfiche. -- IEEE Computer Society Press, 1988. <BB00006507>
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Tutorial test generation for VLSI chips
[edited by] Vishwani D. Agrawal and Sharad C. Seth ; : casebound, : microfiche. -- IEEE Computer Society Press, 1988. <BB00006507>
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10件
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50件
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No.
巻号
所蔵館
配置場所
請求記号
資料ID
状態
返却予定日
予約
0001
: casebound
図書館
電動集密洋書
549.7||A
001965193
書架
0件
No.
0001
巻号
: casebound
所蔵館
図書館
配置場所
電動集密洋書
請求記号
549.7||A
資料ID
001965193
状態
書架
返却予定日
予約
0件
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書誌詳細
標題および責任表示
Tutorial test generation for VLSI chips / [edited by] Vishwani D. Agrawal and Sharad C. Seth
出版・頒布事項
Washington, D.C. : IEEE Computer Society Press
出版・頒布事項
Los Angeles, CA : Order from IEEE Computer Society , c1988
形態事項
x, 401 p. : ill. ; 29 cm
巻号情報
巻次等
: casebound
ISBN
081868786X
巻号情報
巻次等
: microfiche
ISBN
0818647868
その他の標題
異なりアクセスタイトル:Test generation for VLSI chips
注記
A collection of reprints of articles originally published from 1967 to 1988
注記
Includes bibliographies
注記
"Computer Society order number 786."
注記
IEEE catalog number EH0278-2."
学情ID
BA07449360
本文言語コード
英語
著者標目リンク
Agrawal, Vishwani D., 1943- <AU00088446>
著者標目リンク
Seth, Sharad C. <AU00092518>
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