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Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications

Lawrence E. Murr. -- Marcel Dekker, 1982. -- (Optical engineering ; v. 1). <BB00144363>
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Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications

Lawrence E. Murr. -- Marcel Dekker, 1982. -- (Optical engineering ; v. 1). <BB00144363>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 電動集密洋書 549.97||M 002302602 書架 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 電動集密洋書
請求記号 549.97||M
資料ID 002302602
状態 書架
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications / Lawrence E. Murr
出版・頒布事項 New York : Marcel Dekker , c1982
形態事項 xiv, 793 p. : ill. ; 27 cm
巻号情報
ISBN 0824715535
書誌構造リンク Optical engineering <BB00180115> v. 1//a
注記 Includes bibliographical references and indexes
学情ID BA03766394
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Murr, Lawrence Eugene <AU00032276>
分類標目 LCC:QH212.E4
分類標目 DC19:502/.8/25
件名標目等 Electron microscopy
件名標目等 Field ion microscope
件名標目等 Microprobe analysis
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