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Characterization of defects in materials : symposium held December 1-2, 1986, Boston, Massachusetts, U.S.A.

editors, Richard W. Siegel, Julia R. Weertman, Robert Sinclair. -- Materials Research Society, 1987. -- (Materials Research Society symposium proceedings ; v. 82). <BB00180123>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 電動集密洋書 501.4||C 002305704 書架 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 電動集密洋書
請求記号 501.4||C
資料ID 002305704
状態 書架
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

標題および責任表示 Characterization of defects in materials : symposium held December 1-2, 1986, Boston, Massachusetts, U.S.A. / editors, Richard W. Siegel, Julia R. Weertman, Robert Sinclair
出版・頒布事項 Pittsburgh, Pa. : Materials Research Society , c1987
形態事項 xv, 532 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0931837472
書誌構造リンク Materials Research Society symposium proceedings <BB00177291> v. 82//a
注記 Includes bibliographies
学情ID BA01314391
本文言語コード 英語
著者標目リンク Siegel, Richard W. <AU00031584>
著者標目リンク Sinclair, Robert <AU00031585>
著者標目リンク Weertman, Julia R. (Julia Randall) <AU00031621>
著者標目リンク Materials Research Society <AU00007719>
著者標目リンク Materials Research Society. Meeting <AU00035028> (1986 : Boston, Mass.)
著者標目リンク Symposium on the Characterization of Defects in Materials <AU00031623> (1986 : Boston, Mass.)
分類標目 LCC:TA418.5
分類標目 DC19:620.1/12
件名標目等 Materials -- Defects -- Congresses
件名標目等 Crystals -- Defects -- Congresses