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愛知工業大学附属図書館

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	VLSI testing edited by T.W. Williams. -- North-Holland, 1986. -- (Advances in CAD for VLSI ; v. 5). <BB00144140> 便利機能：エクスポート先選択エクスポート先を選択してください。このウインドウを閉じる詳細情報を見る書誌URL：

VLSI testing edited by T.W. Williams. -- North-Holland, 1986. -- (Advances in CAD for VLSI ; v. 5). <BB00144140> 便利機能：エクスポート先選択エクスポート先を選択してください。このウインドウを閉じる詳細情報を見る書誌URL：

所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No.	巻号	所蔵館	配置場所	請求記号	資料ID	状態	返却予定日	予約
0001		図書館	電動集密洋書	549\|\|W	001939966	書架		0件


No.	0001
巻号
所蔵館	図書館
配置場所	電動集密洋書
請求記号	549\|\|W
資料ID	001939966
状態	書架
返却予定日
予約	0件

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目次・あらすじ

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書誌詳細

標題および責任表示

VLSI testing / edited by T.W. Williams

出版・頒布事項

Amsterdam ; New York : North-Holland

出版・頒布事項

New York : Sole distributors for the U.S.A. and Canada, Elsevier Science , 1986

形態事項

ix, 275 p. : ill. ; 25 cm

巻号情報

ISBN	0444878955

書誌構造リンク

Advances in CAD for VLSI <> v. 5//a

注記

Includes bibliographies

学情ID

BA00276923

本文言語コード

英語

著者標目リンク

Williams, T. W. <>

分類標目

LCC:TK7874

分類標目

DC19:621.395

件名標目等

Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing

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