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IEEE international reliability physics proceedings

sponsored by the IEEE Electronic Devices Society and the IEEE Reliability Society. -- 32nd (Apr. 12/13/14, 1994)-34th (Apr. 30/May 1/2, 1996). -- IEEE, 1994. <SB00125635>
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No. 配置場所 請求記号 巻号 年月次 購読状況 表示用メモ
0001 手動集密書架 P-I 32-34 1994-1996
No. 0001
配置場所 手動集密書架
請求記号 P-I
巻号 32-34
年月次 1994-1996
購読状況
表示用メモ

書誌詳細

標題および責任表示 IEEE international reliability physics proceedings / sponsored by the IEEE Electronic Devices Society and the IEEE Reliability Society
巻次・年月次 32nd (Apr. 12/13/14, 1994)-34th (Apr. 30/May 1/2, 1996)
出版・頒布事項 Piscataway, N.J. : IEEE , c1994-c1996
形態事項 3 v. : ill. ; 28 cm
その他の標題 略タイトル(雑誌書誌レコード):IEEE int. reliab. phys. proc
その他の標題 キータイトル(雑誌書誌レコード):IEEE international reliability physics proceedings
その他の標題 題字欄タイトル:International reliability physics proceedings
学情ID AA11059226
本文言語コード 英語
刊行頻度コード 年刊
ISSN 10827285
書誌変遷リンク 継続前誌 :Annual proceedings, reliability physics <>
書誌変遷リンク 継続後誌 :IEEE International Reliability Physics Symposium proceedings / sponsored by the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society <SB00125810>
著者標目リンク Reliability Physics Symposium <>
著者標目リンク IEEE Electron Devices Society <AU00028171>
著者標目リンク IEEE Reliability Society <AU00043364>
件名標目等 Electronic apparatus and appliances -- Reliability -- Congresses
件名標目等 Electronic apparatus and appliances -- Testing -- Congresses
件名標目等 Integrated circuits -- Reliability -- Congresses
件名標目等 Integrated circuits -- Testing -- Congresses