愛知工業大学附属図書館

IEEE design & test of computers

IEEE Computer Society [and] the Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. -- Vol. 1, no. 1 (Feb. 1984)-v. 29, no. 6 (Nov./Dec. 2012). -- IEEE Computer Society, 1984. <SB00124360>
書誌URL:

一括所蔵一覧 1件~1件(全1件)

No. 配置場所 請求記号 巻号 年月次 購読状況 表示用メモ
0001 手動集密書架 P-I 1-9, 10(1, 3-4), 11(2-4), 12-14, 15(1-2, 4), 16-20, 21(1-5), 22-25, 26(1-3, 5), 27, 28(1) 1984-2011
No. 0001
配置場所 手動集密書架
請求記号 P-I
巻号 1-9, 10(1, 3-4), 11(2-4), 12-14, 15(1-2, 4), 16-20, 21(1-5), 22-25, 26(1-3, 5), 27, 28(1)
年月次 1984-2011
購読状況
表示用メモ

書誌詳細

標題および責任表示 IEEE design & test of computers / IEEE Computer Society [and] the Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc
巻次・年月次 Vol. 1, no. 1 (Feb. 1984)-v. 29, no. 6 (Nov./Dec. 2012)
出版・頒布事項 [Los Alamitos, Calif.] : IEEE Computer Society , c[1984]-2012
形態事項 v. : ill. ; 28 cm
その他の標題 略タイトル(雑誌書誌レコード):IEEE des. test comput (Print)
その他の標題 キータイトル(雑誌書誌レコード):IEEE design & test of computers (Print)
その他の標題 異なりアクセスタイトル:IEEE design and test of computers
その他の標題 異なりアクセスタイトル:Design & test of computers
その他の標題 異なりアクセスタイトル:Design and test of computers
その他の標題 欄外タイトル:IEEE design & test
その他の標題 異なりアクセスタイトル:Institute of Electrical and Electronics Engineers design and test of computers
注記 Title from cover
注記 Vol. 1, no. 1 also called premiere issue
注記 Issued also in microfiche
注記 Quarterly, 1984; bimonthly, 1985-
注記 Place of publication varies: New York, N.Y.
学情ID AA10630714
本文言語コード 英語
刊行頻度コード 隔月刊
ISSN 07407475
書誌変遷リンク 継続後誌 :IEEE design & test / IEEE <>
著者標目リンク IEEE Computer Society <AU00014488>
著者標目リンク Institute of Electrical and Electronics Engineers <AU00001945>
件名標目等 Computer engineering -- Periodicals
件名標目等 Electronic digital computers -- Testing -- Periodicals