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Point defects in semiconductors
M. Lannoo, J. Bourgoin ; with a foreword by J. Friedel ; v. 1 : us - v. 2 : gw. -- Springer-Verlag, 1981. -- (Springer series in solid-state sciences ; 22, 35). <BB00180088>
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Point defects in semiconductors
M. Lannoo, J. Bourgoin ; with a foreword by J. Friedel ; v. 1 : us - v. 2 : gw. -- Springer-Verlag, 1981. -- (Springer series in solid-state sciences ; 22, 35). <BB00180088>
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No.
巻号
所蔵館
配置場所
請求記号
資料ID
状態
返却予定日
予約
0001
v. 1 : gw
図書館
電動集密洋書
549||L
002302784
書架
0件
0002
v. 2 : gw
図書館
電動集密洋書
549||L
002302792
書架
0件
No.
0001
巻号
v. 1 : gw
所蔵館
図書館
配置場所
電動集密洋書
請求記号
549||L
資料ID
002302784
状態
書架
返却予定日
予約
0件
No.
0002
巻号
v. 2 : gw
所蔵館
図書館
配置場所
電動集密洋書
請求記号
549||L
資料ID
002302792
状態
書架
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書誌詳細
標題および責任表示
Point defects in semiconductors / M. Lannoo, J. Bourgoin ; with a foreword by J. Friedel
出版・頒布事項
Berlin ; New York : Springer-Verlag , 1981-1983
形態事項
2 v. : ill. ; 24 cm
巻号情報
巻次等
v. 1 : us
ISBN
0387105182
巻号情報
巻次等
v. 1 : gw
ISBN
3540105182
巻号情報
巻次等
v. 2 : us
ISBN
0387115153
巻号情報
巻次等
v. 2 : gw
ISBN
3540115153
書誌構造リンク
Springer series in solid-state sciences <BB00145122> 22, 35//a
注記
v. 1. Theoretical aspects
注記
v. 2. Experimental aspects
注記
Vol. 2 by J. Bourgoin, M. Lannoo, with a foreword by G.D. Watkins
注記
Includes bibliographical references and index
学情ID
BA01492094
本文言語コード
英語
著者標目リンク
*Lannoo, M. (Michel), 1942- <AU00031638>
著者標目リンク
Bourgoin, J. (Jacques), 1938- <AU00031639>
分類標目
LCC:QC611.6.D4
分類標目
DC19:537.6/22
分類標目
物性物理学 NDC8:428.4
件名標目等
Semiconductors -- Defects
件名標目等
Point defects
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